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SEC journal論文賞

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  IPAでは、情報化社会を支えるソフトウェアの安全性や信頼性向上に向けた活動の一環として、ソフトウェア開発技術に関する情報提供や、開発技術の普及、研究促進を目的に、その最新動向、開発における実証的な論文や事例、IPAの活動成果などを掲載した「SEC journal」を発行しています。また同ジャーナルではソフトウェア開発現場で役立つ論文を募集しており、応募論文は有識者の査読(*1)により、SEC Journalへの掲載が決定されます。IPAではその掲載論文の中から毎年1回「SEC journal論文賞」を選定し、授与(*2)、表彰しています。

2015年SEC journal論文賞

   2014年8月から2015年7月に掲載決定となった論文の中からSEC journal論文賞の受賞論文を選定し、2015年11月19日(木)にEmbedded Technology 2015内で開催したSEC journal論文賞授賞式にて、「SEC journal論文賞」を授与しました。

  • 過去のSEC journal論文賞についてはこちら
SEC journal論文賞の発表・授賞式

日時:2015年11月19日(木) 14:40~15:10
会場:パシフィコ横浜 アネックスホール 2階 F203(神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1)

対象論文

  2015年SEC journal論文賞は、以下の論文を対象に選定されました。

掲載号論文テーマ
40号 概念段階におけるハザード・脅威の識別手法
40号 次世代ソフトウェア信頼性評価技術の開発に向けて
40号 UMLによる組込みソフトウェア設計の検証支援環境の開発
41号 アーキテクチャ横断的要素に着目したトレーサビリティ確保によるアプリケーションライフサイクル高信頼性維持のためのアプローチ
42号 チェックリストを用いたコードレビューと判別モデルの組合せによるモジュールの不具合リスクのランク付け
42号 組込みソフトウェア開発における設計関連メトリクスに基づく下流試験欠陥数の予測


2015年SEC journal論文賞 受賞論文

  2015年SEC journal論文賞の受賞論文は以下の1編です。(所属などは投稿当時の情報です)

最優秀賞

  本年は該当論文なし

優秀賞

  本年は該当論文なし

SEC所長賞

  受賞論文:1編

論文テーマ 組込みソフトウェア開発における設計関連メトリクスに基づく下流試験欠陥数の予測
執筆者 角田 雅照
所属団体 奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科/近畿大学 理工学部情報学科
共著者 1 門田 暁人(奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科/岡山大学 大学院自然科学研究科)
共著者 2 松本 健一(奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科)
論文 掲載論文(SEC journal42号)の詳細・ダウンロード

 所長賞には、「組込みソフトウェア開発における設計関連メトリクスに基づく下流試験欠陥数の予測(執筆者:角田 雅照氏 他2名)」が選ばれました。本論文では、組込みソフトウェア開発の設計工程から得られるメトリクスを用いて、テスト後半(結合テスト、総合テスト)における欠陥数の予測を試みています。モデルの説明変数としては、品質保証に関するメトリクスに加えて、各仕様書のドキュメント量に関するメトリクスも採用していて、高い予測精度となっています。これまで品質管理を支援することを目的として様々な方式が研究・提案されていますが、定量的にその効果を示しているものは多くありません。実プロジェクトのデータをもとにしたメトリック利用研究であり、産業界での有効性のエビデンスを示している点も評価されました。

脚注

(*1) 学界と産業界の有識者2名以上で査読し、SEC journalへの掲載論文を選定する。
(*2) SEC journalへの掲載論文の中から産学の有識者20名で構成する選考委員会が審査し、さらに選考委員会とは異なる有識者8名で構成する表彰委員会の審査を経て決定する。